新的金屬微粒帶樣品到手時,恰好還來得及趕上本期出刊。帶子的外形仍如預料中,表示真正值得注目的改進是在磁帶再生能力上,而非外觀。因為樣品磁帶極為有限,不容許獲得三種慣常使用的長度──此種長度較利於檢查密度及決定何者較具代表性。此次卡式帶係分別由Fuji、Nakamichi、Scotch和TDK提供。
廠商說明書
某些廠商會提供技術資料報告,通常只是很有限的一些量度。表一列出了部分項目,大約必須的資料都列出了。特別注意不同產品間矯頑磁性和頑磁性數值。高偏置磁帶到金屬微粒帶間的矯頑磁性大約呈2:1的增加率,相當600到1,000或者更多的奧斯特。我們希望發現高頻再生因此而有所改善。金屬微粒帶的頑磁性也增加了大約一倍,所以我們也希望發現在最大錄音電平方面,有相當的改善。在金屬帶特性中的很多因素,雖然分別已詳細討論過,其實這些因素彼此間都有關聯。的差異立及
測試時......
如同以往對卡式帶的測試一樣,錄音座的偏置調到使磁帶表現最佳的位置。並沒有所為的標準帶──比較之下,可「看」出其帶子缺點的磁帶。金屬微粒帶在係Nakamichi 582上測試,因該機對那些高矯頑磁性帶子,有能力做必要的錄音和消音。由於這方面的工業標準尚付之闕如,路陰靈敏度以Nakamichi ZX帶為參考。又因手頭上缺乏偏置電流鑑視裝置,因此以相對的感覺,藉著將偏置自最佳狀況轉換成Nakamichi ZX的偏置狀況,注意在15KHz響應的改變來代替。所有的參考電平係採卡式帶的杜比電平標準,400Hz時的磁通量(fluxivity)為200nWb/m。錄音的參考電平係得自此磁通電平。錄音/放音的頻率響應分別在杜比電平和低於杜比電平20dB之電平測得。對每個錄音帶,事先都將偏置及磁頭的方位角調整至最適當的位置。粉紅色雜音由Crown RTA-2產生,本機⅓-每八度音程的即時顯示,非常易於那些調整。
拂掠繪跡(Swept plots)係由Exact 128函數波產生器(function generator)及UREI 200繪跡系統產生,提供給MFE-XY記錄器。一部Sound Technology 1701A在100Hz、400Hz、1KHz和±2KHz產生音源、鑑視電平及測量失真。一部Ferrograph RTS-1作為twin-tone IM測試的第二音源,1KHz的音頻部分。twin-tone測試時之數據以HDL,失真為百分之三的調信號(single tone)及產生2f1-f2失真為百分之三時為準。在低頻,f1為5KHz及10KHz時,分別做二次測試。一部Hewlett-Pckard 3580A頻譜分析儀鑑視二者基頻及上下旁頻帶。如此可以了解,twin-tone IM最大失真比單純的飽和失真測試更為麻煩。信號雜音比以400Hz時百分之三的最大失真為準,並使用IEC的「A」加權。Nakamichi T-100用來保護dBA顯跡器(figures),同時也是TechnicsRS-9900US的偏置電平鑑視,並附帶做一點簡單的顫抖聲測試。由以往的經驗得知,絕大多數卡式帶的顫抖聲都不必要擔心。大部分的卡帶在剛要停止、開始、重新插入等情形,才會影響播放的變化。少部分磁帶始終能表現極佳,偶爾才有很糟的鋪張。
調度雜音的測量係將1KHz音頻,以參考電平錄下,捲回來再放回去測得。一部UREI 560回授是壓縮器(feedback suppressor)用來拾出此音頻; 另外用一部Gen. Rad. 1952濾波器限制頻寬在500Hz和1,500Hz。振幅穩定性及滴聲的測試是以H-P 3580A從零掃描變到3KHz頻率方式來獲得,並加以記錄。2S/div的拂掠速率顯示較慢的變化; 50mS/div的拂掠速率顯示滴聲的細部情形。
測試結果
在樣品帶間的一致性(consistency)主要由Crown RTA-2來鑑定。如偏置及磁頭的方位角調整,係以一只卡帶為準,然後其餘的樣品帶試著將就該帶的設定。偏置或歪斜的差異立即在高頻顯示一起始(roll-off)效果。靈敏度的變化則量測試振盪器錄進每個測試錄音帶的情形。
受測試的金屬微粒帶共有四種,包括Fuji、Nakamichi及TDK各一。當然了,結果極為有趣,特別在技術的共通性上。
言歸正傳,我們這篇報告係強調: 金屬帶究竟好到什麼程度?雖然目前的「金屬」帶已成了一種習慣用語,但我希望讀者們不要忘了,基本上0.150吋寬的帶子仍是塑膠(聚丙烯)基帶。在基帶上的質點也許是純的非氧化金屬,但並不意味著是顧太「金屬質料」的帶子。在比較了表二和以下的測試結果之後,我們期待未來在金屬微粒帶方面仍有更多討論到種種相關因素間關係的文章。
Fuji Metal 帶: 參考表二可知,此種磁帶之設計,在低頻及中頻範圍提供了很大的充裕度,高達+10.6dB!同時也提供了很高的信號雜音比。0dB與-20dB時的響應擴張了,特別在表中和其他帶子做個比較之後。C-60帶在各方面將會和所收到的樣品帶C-46一致。振幅隨時間的變化非常少,大約是0.1dB; 滴聲極微。
Nakamichi ZX 帶: 和Fuji帶類似,也有著高的充裕度──1KHz時為+9.0dB──和寬的響應。這種帶子的靈敏度及偏置的設定,係做為它種帶子的參考基準。手頭上的樣品帶不足做一致性的檢驗。振幅的變異較為不拘,通常也少於0.25dB,偶爾有些滴聲。
Scotch Metafine 帶: 即使什麼資料都沒有,也可以從Scotch將他們的產品命名為Metafine上略之一二。實際測試時,該帶有最大的響應,整個頻帶的充裕度優於平均值; 信號雜音比亦絕佳。在5及10KHz的充裕度是四者中最好的,調度雜音亦為極佳者。C-46樣品帶在靈敏度、歪斜及偏置的需要上,通常都會和C-60帶一致;只是在卡帶翻面時,稍有歪斜。某些早期的C-60樣品帶亦有類似情形。在振幅方面,一般有0.3dB十分連續的變動。有少許輕微的滴聲出現在分析儀上,但並不會影響聆聽。
TDK MA-R 帶: 該帶係在這場金屬微粒競賽中,在響應上和Scotch的Metafine帶非常接近,並且調度雜音最低。充裕度在低頻端略為遜色,但和其他帶子也很接近。C-60的樣品帶不論在靈敏度、偏置及歪斜(含錄音帶翻轉時),均和實際上在市面上所買得到的商品一樣。藉著TDK卡帶上精良的「結構」,或許有助於再生。振幅大致上非常穩定和圓滑.偶爾才有0.2dB的變動。中等程度的滴聲並不常有,尚不致影響聆聽效果。
概 況
無可置疑地,這種新式的磁帶將會比其他的磁帶更多。不管在頻率響應、整個頻帶充裕度及信號雜音比上都有明顯得改進。調度雜音卻沒有顯出同樣程度的改善,甚至還趕不上一些較早的磁帶。雖然才剛開始生產,但我們盼望這種新材料有更大的發展。金屬微粒帶有許多項目需要標準化,尤其需要可資參考的標準測試帶。同時也需要標準偏置的設定。走筆至此,不妨注意表二中,Scotch的Metafine帶在15KHz時,此Nakamichi ZX帶的偏置低; 5dB或者說Nakamichi ZX帶比Metafine帶偏置高大約5dB。錄音帶市場上的競爭是相當激烈地,所以我們也期望製造商在各方面均有長足的進展。
我能使用金屬微粒帶嗎?
這篇測試報告係以Nakamichi 582 卡式座獲得,這是部為金屬微粒帶使用而設計的機種。再生特性圖分別在磁帶測試時如前所述。隨著時間的變化,可能(真的可能)這些特性會跟盤式帶很接近。把金屬帶用在非設計為金屬帶的機器上使用,結果將令人非常失望,無論在錄音或消音方面都一樣。這種用髮並不值得嚐試。一篇文章需伴隨著包括各方面的註解,可能有助於具備金屬微粒帶共容性之錄音座的評估。
轉載音響技術第48期 DEC. 1979 金屬微粒帶測試報告/趙健雄 譯自Audio Sep. 1979; Howard A. Roberson原著
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